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            X射線鍍層測厚儀標準片XRF-2020校正片

            更新時間:2022-05-09

            簡要描述:

            韓國微先鋒MicroP
            X射線鍍層測厚儀標準片XRF-2020校正片
            可應用各種X射線測厚儀品牌
            用于校正測厚儀標準及添加應用程序
            電鍍層測厚儀校正片膜厚標準片

            X射線鍍層測厚儀標準片XRF-2020校正片


            標準片

            可應用各種X射線測厚儀品牌


            用于校正鍍層測厚儀

            標準曲線及添加應用程序


            韓國XRF-2000測厚儀標準片:

            銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/鋅鎳合金等

            標準片可訂制,均附帶標準證書


            鍍層測厚儀膜厚測試儀標準片校正片


            標準片X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。

            是膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線。

            以此標準曲線來測量鍍層樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。


            電鍍層測厚儀校正片膜厚標準片

            銅,鎳,鉻,鋅,金,銀,錫,鋅鎳,鈀各種厚度及規格均可訂制

            校準片均附帶證書

            637858841512779669821.jpg

            標準片.jpg



            X射線鍍層測厚儀標準片XRF-2020校正片




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